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芯片引腳共面度測試儀的工作原理

更新時間:2025-11-12點擊次數(shù):714

IC芯片共面度測試儀的工作原理

測量儀工作原理:被測工件(置于工作臺上)由LED表面光或輪廓光(在底座內(nèi))照明后,經(jīng)變焦距物鏡與彩色CCD攝影機罩殼內(nèi)攝取被測零件影像,再通過S端子傳送至計算機及顯示器上,軟件在顯示器上產(chǎn)生的視頻十字線為基準,對其進行瞄準測量,通過工作臺帶動光學尺與在X、Y方向上移動,取空間各點坐標值,由轉接卡至計算機,對測量坐標值進行幾何運算,完成各種數(shù)據(jù)量測工作。

芯片引腳共面度測試儀的工作原理

IC芯片共面度測試儀

IC芯片共面度測試儀的應用領域

本儀器采用測量軟件,能率的檢測各種形狀復雜工件的輪廓和表面形狀,元器件共面性測試、引腳移位檢測、引腳高度錯誤檢測、引腳面積測量、直徑、角度、不規(guī)則面積測量、手輪可調節(jié)光柵、非刺眼型光源、高精度XZ軸測距、SPC過程統(tǒng)計如樣板、沖壓件、凸輪,成形銑刀等各種工具,刀具和零件,以及端子、鐘表、金剛石等生產(chǎn)。

應用領域

本儀器采用測量軟件,能率的檢測各種形狀復雜工件的輪廓和表面形狀,1、元器件共面性測試、引腳移位檢測、引腳高度錯誤檢測、引腳面積測量、直徑、角度、不規(guī)則面積測量、手輪可調節(jié)光柵、非刺眼型光源、高精度XZ軸測距、SPC過程統(tǒng)計如樣板、沖壓件、凸輪,成形銑刀等各種工具,刀具和零件,以及端子、鐘表、金剛石等生產(chǎn)。

IC芯片共面度測試儀

儀器特點:

1、機臺核心零部件全部采用產(chǎn)品,整機經(jīng)過嚴格,規(guī)范的組裝和調試,整機在24小時恒溫間內(nèi)經(jīng)300小時不間斷運行負載測試。

2、自準直儀校準機臺機身工作臺裝配工藝,保證機器空間測量高精度。

3、工作臺,經(jīng)過嚴格熱處理時效,長期使用保證基準面不變形,導軌運行精度穩(wěn)定。

4、采用山東濟南青“00"級花崗石底座,保證機械系統(tǒng)*的穩(wěn)定性。

5、采用高精密V型交叉導軌,保證儀器*的機械精度。




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